2021 现代分析测试方法(西北工业大学) 最新满分章节测试答案

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本课程起止时间为:2021-03-08到2021-08-31

第八章 透射电子显微镜 透射电子显微镜

1、 问题:透射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？
答案: 【四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪器系统。其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。】

2、 问题:透射电子显微镜中有哪些主要光阑？在什么位置？
答案: 【聚光镜光阑，常装在第二聚光镜的下方。
物镜光阑，又称衬度光阑，通常被安放在物镜的后焦面上。
选区光阑，又称场限光阑或视场光阑，放在物镜的像平面。】

第一章 X射线物理学基础 X射线物理学基础

小提示:本节包含奇怪的同名章节内容

1、 问题:请说明两种主要X射线谱的类型
答案: 【连续X射线、特征X射线】

2、 问题:特征X射线入射源为电子，二次特者X射线入射源为
答案: 【X射线】

3、 问题:特征X射线与二次特征X射线的区别仅仅是入射源不同
选项：
A:正确
B:错误
答案: 【正确】

4、 问题:请写出材料分析的三要素
答案: 【激发源、相互作用，产生信号】

5、 问题:X射线谱可分为
答案: 【连续X射线、特征X射线】

6、 问题:请写出特征X射线的应用
答案: 【X射线波长分散谱、X射线能量分散谱】

7、 问题:请写出特征X射线与二次特征X射线的入射源
答案: 【高速运动的电子束、X射线】

8、 问题:请写出X射线与物质相互作用所产生的信号类型(至少5个)
答案: 【相干散射、非相干散射、荧光X射线、反冲电子、俄歇电子、透射X射线】

9、 问题:X射线的本质是
选项：
A:电磁辐射
B:一种射线
C:一种光
D:一种波
答案: 【电磁辐射】

10、 问题:特征X射线与二次特征X射线的区别是
选项：
A:是一样的
B:激发源
C:产生过程
D:能量
答案: 【激发源】

11、 问题:相干散射波与入射波什么参数相同
选项：
A:频率
B:能量
C:传播方向
D:波程
答案: 【频率】

12、 问题:滤波片的设计原理是什么
选项：
A:光电效应
B:荧光辐射
C:吸收
D:吸收限
答案: 【吸收限】

13、 问题:特征X射线进行成分分析的依据是
选项：
A:莫塞来定律
B:波长
C:能量
D:原子序数
答案: 【莫塞来定律】

第十一章 扫描电子显微镜 扫描电子显微镜

1、 问题:电子束与固体样品作用时产生的信号：
答案: 【二次电子；背散射电子；俄歇电子；特征X射线；吸收电子；透射电子；】

2、 问题:请写出扫描电子显微镜的三大系统
答案: 【电子光学系统；信号收集处理和图像显示记录系统；】

第三章 X射线衍射强度 试计算bcc点阵的结构因子

1、 问题:简单点阵、体心点阵、面心点阵衍射线的系统消光规律
答案: 【简单点阵：H+K+L为任意值都不会消光
体心点阵：H+K+L=奇数会消光
面心点阵：H、K、L奇偶混合会消光】

2、 问题:多重性因数的物理意义是什么？某立方系晶体，其{100}的多重性因数是多少？如果该晶体转变为四方系，这个晶面族的多重性因数会发生什么变化？
答案: 【晶体的等同晶面数称为多重性因数 立方晶系{100}的多重性因数是6，四方晶系为4】

第五章 X射线物相分析 X射线物相分析

1、 问题:物相定性分析的原理是什么？
答案: 【根据每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构，即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此，从布拉格公式和强度公式知道，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，他们的特征可以用各个反射面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关，相对强度I则与指点的种类及其在晶胞中的位置有关。任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别晶体物质的物相】

2、 问题:物相定量分析的原理是什么？
答案: 【物质的衍射强度与参与衍射的该物质的体积成正比。】

第六章 宏观应力测量 宏观应力测量

1、 问题:简述内应力的分类及其衍射效应。
答案: 【第一类应力：物体宏观体积内存在并平衡的内应力，会使衍射线位移。
第二类应力：数个晶粒的范围内存在并平衡的内应力，会引起线形变化。‘
第三类应力：在若干原子范围内存在的并平衡的应力，会使衍射强度降低。】

2、 问题:测倾法的特点是什么？在水平测角器的衍射仪上安装一侧倾附件 ，用侧倾法测定轧制板材的残余应力，当测量扎向和横向应力是，试样应如何放置。
答案: 【测倾法的特点是测量方向平面与扫描平面垂直，测量轧制板材的残余应力时，其扎向和横向要分别与扫描平面垂直。】

第十章 晶体薄膜衍衬成像分析 晶体薄膜衍衬成像分析

1、 问题:位错线不可见判据
答案: 【g·b=0】

2、 问题:请写出制备薄膜样品的工艺过程？
答案: 【1.从实物或大块试样上切割厚度为0.3-0.5mm厚的薄片；
2.预先减薄；
3.最终减薄；】

第二章 X射线衍射方向 X射线衍射方向

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1、 问题:是什么，其中λ、d、分别是什么
答案: 【布拉格方程 晶面间距 布拉格衍射角 x射线波长】

2、 问题:波长为λ的x射线照射到晶体并出现衍射时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是多少？相邻两个（HKL）反射线的波程差是多少？
答案: 【相邻两个（hkl）反射线的波程差是nλ，相邻两个（HKL）反射线的波程差是多少λ】

3、 问题:金属都是晶体，有机物都是非晶体
选项：
A:正确
B:错误
答案: 【错误】

4、 问题:请写出布拉格方程
答案: 【2sinθ = λ】

5、 问题:布拉格方程的应用有
答案: 【X射线结构分析、X射线光谱分析】

6、 问题:产生X射线衍射的条件
答案: 【衍射只产生在波长和散射中间距为同一数量级或更小时，λ < 2d】

7、 问题:请写出晶体的性质
答案: 【对称性、均一性、自范性、稳定性、各向异性】

8、 问题:晶胞的选择原则
答案: 【(1) 晶胞几何形状充分反映点阵对称性; (2) 平行六面体内相等的棱和角数目最多; (3) 当棱间呈直角时，直角数目应最多; (4) 满足上述条件，晶胞体积应最小。】

第九章 电子衍射 电子衍射

1、 问题:晶带定律
答案: 【hu+kv+lw=0】

【作业】第八章 透射电子显微镜 透射电子显微镜

1、 问题:分别说明成像操作与衍射操作时各级透射电子显微镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并画出光路图。
评分规则: 【 画出相对位置关系
画出光路图