2020 材料分析方法(青海大学) 最新满分章节测试答案

本答案对应课程为:点我自动跳转查看
本课程起止时间为:2020-02-20到2020-06-30
本篇答案更新状态:已完结

【作业】第2教学单元 第2章 X射线的物理基础 第2单元作业

1、 问题:质量吸收系数与线吸收系数的物理意义有何不同？
评分规则: 【 答：质量吸收系数反映了单位质量的物质量对X射线的衰减程度（10分），而线吸收系数则反应单位长度的物质量对X射线的衰减程度（10分）。前者更能反应物质对X射线吸收的能力和本质（5分）。
】

2、 问题:为何不能任意选靶材和滤片？
评分规则: 【 答：靶材的选择是依据样品来定的。电子束作用于靶材产生的X射线通过滤片过滤后，仅剩特征X射线，作用样品后在样品中产生衍射，不希望样品产生大量的荧光辐射，否则会增加衍射花样的背底，不利于衍射分析。（15分）。滤片的选择是依据靶材而定。由于靶材将产生连续X射线及Ka和Kb等多种特征X射线，同时参与衍射时将产生多套衍射花样，不利于衍射分析，仅让强度高的Ka通过，形成单色特征X射线（10分）。
】

3、 问题:简述俄歇效应与荧光效应的区别？
评分规则: 【 答：俄歇效应与荧光效应伴随光电效应产生。入射X射线击出原子内层电子成为光电子后，原子处于激发态，此时有两种可能，一种是外层电子回填内层空位，原子以二次特征X射线的形式释放能量，该过程称荧光效应；（15分）若原子所释放的能量被同层电子吸收，并挣脱了核的束缚成为自由电子，该电子称为俄歇电子，该现象称俄歇效应。（10分）
】

4、 问题: 连续谱的影响因素有哪些？
评分规则: 【 答：主要有管流i，管压U，阳极靶材的原子序数Z。（4分）（1）当i、Z 均为常数时，U增加，连续谱线整体左上移，波长限l0减小，波长lm也随之减小。（7分）（2）当管压U为常数时，提高管流i，连续谱线整体上移，但l0、lm保持不变。（7分）（3）当管压U和管流i不变时，Z愈高表现为连续谱线的整体上移，但l0、lm保持不变。（7分）
】

第2教学单元 第2章 X射线的物理基础 第2单元测验

1、 问题:反冲电子是指
选项：
A:束缚较松的外层电子或自由电子吸收了部分X射线（光量子）的能量而产生的，使X射线的能量降低波长增加。
B:束缚较松的外层电子或自由电子吸收了部分X射线（光量子）的能量而产生的，使X射线的能量增加波长变短。
C:束缚较紧的内层电子或自由电子吸收了部分X射线（光量子）的能量而产生的，使X射线的能量降低波长增加。
D:束缚较紧的内层电子或自由电子吸收了部分X射线（光量子）的能量而产生的，使X射线的能量增加波长变短。
答案: 【束缚较松的外层电子或自由电子吸收了部分X射线（光量子）的能量而产生的，使X射线的能量降低波长增加。】

2、 问题: 如果采用Cu（Z=29）靶X光照相，错用了Fe(Z=26)滤片，会产生
选项：
A:特征lKα被大量吸收，使衍射强度急剧增加；
B:特征lKβ被大量吸收，使衍射强度急剧下降；
C:特征lKα、 lKβ均被大量吸收，使衍射强度急剧下降；
D:特征lKα被大量吸收，而特征lKβ未被大量吸收，使衍射强度急剧下降。
答案: 【特征lKα被大量吸收，而特征lKβ未被大量吸收，使衍射强度急剧下降。】

3、 问题:X射线作用物质产生光电效应后，荧光效应和俄歇效应
选项：
A:均能产生，只是两者的概率不同而已；
B:均能产生，两者的概率相同；
C:均不能产生；
D:光电效应后、荧光效应和俄歇效应之间无关联性。
答案: 【均能产生，只是两者的概率不同而已；】

4、 问题:质量吸收系数与线吸收系数相比
选项：
A:两者均能反应物质对X射线吸收的能力和本质。
B:两者均不能反应物质对X射线吸收的能力和本质。
C:后者更能反应物质对X射线吸收的能力和本质。
D:前者考虑物质密度，从而更能反应单位质量物质对X射线吸收的能力和本质。
答案: 【前者考虑物质密度，从而更能反应单位质量物质对X射线吸收的能力和本质。】

5、 问题:X射线的折射率»1，意味着
选项：
A:在穿越不同媒质时，方向几乎不变。电场和磁场均能改变其传播方向；
B:在穿越不同媒质时，方向几乎不变。电场能但磁场不能改变其传播方向；
C:在穿越不同媒质时，方向几乎不变。电场不能但磁场能改变其传播方向；
D:在穿越不同媒质时，方向几乎不变。电场和磁场均不能改变其传播方向。
答案: 【在穿越不同媒质时，方向几乎不变。电场和磁场均不能改变其传播方向。】

6、 问题:为防护X射线一般采用
选项：
A:重金属Pb
B:轻金属Be
C:轻金属Mg
D:轻金属Al
答案: 【重金属Pb】

7、 问题:光电子是指
选项：
A:X射线（光量子）作用物质后，激发束缚松的外层电子使之成为自由电子，具有特征能量；
B:X射线（光量子）作用物质后，激发束缚紧的内层电子使之成为自由电子，具有特征能量；
C:X射线（光量子）作用物质后，激发束缚紧的内层电子使之成为自由电子，不具特征能量；
D:X射线（光量子）作用物质后，激发束缚松的外层电子使之成为自由电子，不具特征能量；
答案: 【X射线（光量子）作用物质后，激发束缚紧的内层电子使之成为自由电子，具有特征能量；】

8、 问题:同一物质而言，存在以下关系：
选项：
A:λk<λKα<λKβ
B:λk>λKα>λKβ
C:λKβ<λk<λKα
D:λk<λKβ<λKα
答案: 【λk<λKβ<λKα】

9、 问题:选靶材的依据是
选项：
A:产生的特征X射线作用试样后不被试样吸收；
B:产生的特征X射线作用试样后尽量被试样吸收；
C:产生的特征X射线作用试样后可被试样大量吸收；
D:产生的特征X射线作用试样后不被试样相干散射。
答案: 【产生的特征X射线作用试样后不被试样吸收；】

10、 问题:选滤片依据是让靶材产生的λKα、λKβ特征X射线尽可能
选项：
A:保留λKα、过滤λKβ
B:保留λKβ、过滤λKα
C:同时保留λKα、λKβ
D:同时过滤λKα、λKβ。
答案: 【保留λKα、过滤λKβ】

第4教学单元 第4章 X射线的多晶衍射分析及其应用 第4单元测验

1、 问题:连续扫描时
选项：
A:计数器和计数率器相连
B:计数器和计数率器脱开
C:仅需计数器
D:仅需计数率器
答案: 【计数器和计数率器相连】

2、 问题:样品的转动，q从0°®90°，则衍射晶面间距
选项：
A:从最大降到最小（l/2）
B:从最小升至最大
C:不变
D:晶面间距先减小后增大
答案: 【从最大降到最小（l/2）】

3、 问题:合金的谱分析
选项：
A:仅能给出该合金组成元素的种类和相对含量，却不能给出合金相的种类和相对含量
B:既能给出该合金组成元素的种类和相对含量，又能给出合金相的种类和相对含量
C:不能给出该合金组成元素的种类和相对含量，却能给出合金相的种类和相对含量
D:既不能给出该合金组成元素的种类和相对含量，也不能给出合金相的种类和相对含量
答案: 【仅能给出该合金组成元素的种类和相对含量，却不能给出合金相的种类和相对含量】

4、 问题:X射线衍射花样
选项：
A:反映晶体中的晶胞大小、点阵类型、原子种类、原子数目和原子排列等规律；
B:反映试样中的原子种类、原子数目和原子排列等规律，不能反映点阵类型和晶胞大小；
C:不能反映晶体中的晶胞大小、点阵类型及点阵对称性等规律；
D:反映晶体中的晶胞大小、点阵类型和对称性，但不能反映原子种类、原子数目和原子排列等规律。
答案: 【反映晶体中的晶胞大小、点阵类型、原子种类、原子数目和原子排列等规律；】

5、 问题:物相分析时与PDF卡片上的对应峰位数理论上需要
选项：
A:4个
B:5个
C:7个
D:8个
答案: 【8个】

6、 问题:绝热法不仅适用于粉末试样，也适用于块体试样，但需知道试样的
选项：
A:所有组成相
B:所有组成元素
C:所有组成相的线吸收系数
D:所有组织组成物
答案: 【所有组成相】

7、 问题:对于同一个q角时，Dq愈小，晶格常数的测量误差
选项：
A:愈大
B:不变
C:随机变化
D:愈小
答案: 【愈小】

8、 问题:第三类内应力释放此应力时
选项：
A:会引起宏观体积和形状改变
B:不会引起宏观体积和形状改变
C:有时会引起宏观体积和形状改变。
D:不会引起宏观体积改变，但会使形状改变。
答案: 【不会引起宏观体积和形状改变】

9、 问题:测量平面是指
选项：
A:样品表面法线ON与所测晶面的法线OA构成的平面；
B:入射线、所测晶面的法线OA和衍射线构成的平面；
C:样品表面法线ON与入射线构成的平面；
D:衍射线、所测晶面的法线OA和衍射线构成的平面。
答案: 【样品表面法线ON与所测晶面的法线OA构成的平面；】

10、 问题:非晶态物质虽不具有长程有序，但近程有序，具有确定的结构，该结构可用
选项：
A:电子径向分布函数（RDF）来表征
B:原子径向分布函数（RDF）来表征
C:分子径向分布函数（RDF）来表征
D:中子径向分布函数（RDF）来表征
答案: 【原子径向分布函数（RDF）来表征】

【作业】第4教学单元 第4章 X射线的多晶衍射分析及其应用 第4单元练习